檢查IC零件的刻字狀態(遺漏・缺字)
希望檢查托盤中IC零件的刻字狀態(遺漏、缺字)。
【課題】難以檢測成型品邊緣出現的黑點
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即使托盤中的IC數量改變,也想維持原本設定進行檢查
- 希望檢測IC的座標和傾斜,以便揀選
【解決策】 利用影像感測器 計算IC的數量,並測量刻字部位的高度
使用小型・高速・高機能影像感測器 SV系列 , 計算拍攝範圍內的IC數量,並測量刻字部位的高度,判定測量到的高度是否在合格範圍內 。
也能檢測並輸出IC的重心座標和傾斜角度。

❶ 可在檢測對象的零件位置上顯示刻字檢查的結果(OK/NG)和檢測座標。
❷ 檢測刻字的上邊與下邊,測量刻印的 文 字 高度
迴圈功能
使 用 迴圈功能可以只確認檢測出的 IC 數量,即使IC數量改變也不需要變更設定!
採用重點

輕鬆設定
即使檢查數量改變也不需要變更設定!因為是使用流 量控制功能,先檢測零件的數量再進行檢查,即使畫面中顯示的 IC 數量改變,也不需要變更設定。
畫面顯示
清楚顯示必要的資訊!可顯示出各IC的檢查結果、座標位置及傾斜等資訊,因此能夠當場立即確認檢查結果。
上位通訊
支援Ethernet/IP通訊(轉接器)!可輕鬆與上位機器通訊。