降低對IC晶片的損傷並且做到高顯色的刻字
隨著晶片的高容量/薄型化,希望採用刻印深度較淺的低破壞性雷射刻字,以避免傷害晶片內部
【課題】降低對IC的損傷與雷射深刻間的取捨
- 若對封裝表面造成傷害,也會破壞晶片內部,增加不良品的風險 。
-
若想採用以往的基本波長雷射來減少破壞性,會使刻字變淡。
-
若要改變波長,採用UV雷射或綠光雷射則會增加設備投資。
【解決對策】 用短脈衝光纖雷射雕刻機刻字
利用1ns短脈衝雷射與細微的脈衝控制,即便是基本波長也能降低破壞性並且做出高對比的刻字
Before:既有機種

深度:約20μm
色差:136
AFTER:LP-RV200P

深度:約5μm
色差:185
雕刻深度降低至1/4,但辨識度(色差)反而提升25%
兼具短脈衝・低峰值
-
以往面臨的課題是改為短脈衝後,功率峰值過強導致雕刻過深,而降低功率峰值卻又導致脈衝重疊而發熱。
例)改為短脈衝後脈衝間隔加大,因而出現焦色的模樣
LP-RV200LP不會讓脈衝之間重疊,可避免產生多餘的熱。