| 용도 | 기호 | 설명 | |
|---|---|---|---|
| 입력 측 | LED 전류 | IF | 입력 단자 간을 순방향 바이어스에 의해 흐르는 전류. |
| LED 역전압 | VR | 입력 단자 간 역방향 내압. | |
| 첨두 순방향 전류 | IFP | 순방향 전류의 최대 순간값. | |
| 동작 LED 전류 | IFon | 출력 단자 간에 규정된 전원 전압 및 부하를 연결한 상태에서 LED 전류를 증가시켜 출력이 ON 할 때의 전류. | |
| 복귀 LED 전류 | IFoff | 출력 단자 간에 규정된 전원 전압 및 부하를 연결하여 동작시킨 후 LED 전류를 감소시켜 출력이 OFF 할 때의 전류. | |
| LED 전압 강하 | VF | 순방향 전류에 의한 입력 단자 간 전압 강하. | |
| 허용 손실 | Pin | 입력 단자 간에 허용할 수 있는 전력 손실. | |
| 출력 측 | 부하 전압 | VL | PhotoMOS 릴레이를 정상적으로 동작시키기 위한 출력 측 전원 전압 범위. 교류인 경우에는 피크값으로 표현한다. |
| 연속 부하 전류 | IL | 규정된 주위 온도 조건에서 PhotoMOS 릴레이의 출력 단자 간에 연속해서 흐를 수 있는 최대 전류값. 교류인 경우에는 피크값으로 표현한다. | |
| ON 저항 | Ron | 입력 단자에는 규정된 LED 전류를, 출력 단자에는 규정된 연속 부하 전류를 흘렸을 때의 출력 단자 간 전압 강하 VDS (on)로 다음 식을 통해 구한다. Ron=VDS(on)/IL | |
| 개로 시 누설 전류 | ILeak | LED 전류가 흐르지 않는 상태에서 출력 단자 간에 규정된 전원 전압을 인가했을 때 출력 측으로 흐르는 전류. | |
| 출력 손실 | Pout | 출력 단자 간에 허용할 수 있는 전력 손실. | |
| 개방 출력 전압 | Voc | MOSFET를 구동시키기 위해 필요한 전압값. | |
| 단락 전류 | Isc | 입력 측을 ON 했을 때 드라이버가 출력하는 전력. | |
| 전기적 성능 | 동작 시간 | Ton | 입력 단자에 규정된 LED 전류를 흘린 후 출력이 ON 될 때까지의 지연 시간. |
| 복귀 시간 | Toff | 입력 단자에 흐르는 규정된 LED 전류를 차단한 후 출력이 OFF 될 때까지의 지연 시간. | |
| 입출력 단자 간 용량 | Ciso | 입출력 단자 간 정전 용량. | |
| 출력 단자 간 용량 | Cout | LED 전류가 흐르지 않는 상태에서의 출력 단자 간 정전 용량. | |
| 입출력 간 절연 저항 | Riso | 입출력 단자 간에 지정된 전압을 인가했을 때의 단자 간(입출력 간) 저항. | |
| 총 허용 손실 | Pt | 입출력 간의 모든 회로에서 허용할 수 있는 전력 손실. | |
| 내전압 | Viso | 입출력 간 절연 저항 측정 위치와 동일한 위치에 고전압을 1분간 인가했을 때 절연 파괴가 일어나지 않는 한계값. | |
| 사용 주위 온도 | Topr | 규정된 허용 부하 전류 조건에서 PhotoMOS 릴레이가 정상적으로 동작할 수 있는 사용 가능한 주위 온도 범위. | |
| 보관 온도 | Tstg | PhotoMOS 릴레이에 전압을 인가하지 않고 방치 보관할 수 있는 주위 온도 범위. | |
| 최대 개폐 빈도 | - | 입력 단자에 규정된 펄스 입력을 더하여 동작 복귀를 연속했을 때 PhotoMOS 릴레이가 정상적으로 동작할 수 있는 최대 개폐 빈도. | |
| 분류 | 항목 | 조건 | 목적 |
|---|---|---|---|
| 수명 시험 | 고온 보관 시험 | Tstg(Max.) | 장시간 고온에 보관했을 때의 내성을 판정한다. |
| 저온 보관 시험 | Tstg(Min.) | 장시간 저온에 보관했을 때의 내성을 판정한다. | |
| 고온·고습 보관 시험 | 85°C、85% RH | 장시간 고온 고습 환경에 보관했을 때의 내성 판정. | |
| 연속 동작 수명 시험 | VL=Max.、IL=Max. IF=권장 입력 LED 전류 | 전기적 스트레스(전압, 전류)를 가하여 내성을 판정한다. | |
| 열적 환경 시험 | 온도 사이클 시험 | 저온 보관 온도(Tstg Min.) 고온 보관 온도(Tstg Max.) | 저온 및 고온 상태에 노출된 경우의 내성을 판정한다. |
| 열충격 시험 | 저온 온도(0°C), 고온 온도(100°C) | 급격한 온도 변화에 노출된 경우의 내성을 판정한다. | |
| 납땜 내열성 | 260±5°C, 10초 | 납땜 시에 받는 열적 스트레스에 대한 내성을 판정한다. | |
| 기계적 환경 시험 | 진동 시험 | 196m/s2{20G}, 100～2,000Hz | 운송 중 또는 사용 중에 받는 진동에 대한 내성을 판정한다. |
| 충격 시험 | 9,800m/s2{1,000G}0.5ms、 4,900m/s2{500G}1ms | 기계적, 구조적 내성을 판정한다. | |
| 단자 강도 시험 | 단자 형상, 단면적으로 결정 | 설치 배선 또는 사용 중에 가해지는 외력에 대한 단자부 강도의 내성을 판정한다. | |
| 납땜성 | 245°C, 3초(플럭스 있음) | 단자부의 납땜성을 평가한다. |
* 특정 상품이란 택타일 스위치(라이트터치 스위치), 디텍터 스위치, 푸시 스위치, 엔코더, 로터리 볼륨, 포지션 센서 및 터치 패널을 말합니다.
